日立掃描電子顯微鏡S-3400N

參數(shù)：

SE分辨率：3.0 nm (30 kV)，高真空模式，10 nm (3 kV)， 高真空模式

BSE分辨率：4.0 nm (30 kV)，低真空模式

放大倍率： ×5～×300，000

加速電壓：0.3～30 kV