產品ID：160267

日本三豐便攜式粗糙度儀SJ-410

特點：

1.大屏幕顯示陣列的顯示選項具有高清晰，為彩色圖形液晶屏背光大大更容易操作。也顯示的通過/失敗的結果，不僅使測量結果，而且還評估概況，承載面積曲線，和振幅分布曲線清晰。
2.簡單而直觀的操作本為彩色圖形液晶屏上顯示的單位允許用戶之間進行切換圖標和文本的顯示設置。組合導航圖標和觸摸屏操作簡單和直觀。引導工具提供詳細的解釋增強可用性的觸摸按鈕。
3.數據存儲，便于現場數據采集內部存儲器可以存儲多達10個測量條件，使它能夠同時查看所有測量條件，具體到每個工件。一個可選的記憶卡可以儲存更多的，包括500個測量條件下，測量數據項10000，500項和10000圖形數據，文本數據，方便現場數據收集和整理。該存儲卡還帶有微量10，一個功能，自動存儲最近10個測量方便檢索。
4.備份的測量工具，支持的工作環(huán)境該驅動單元具有垂直傾斜單元兼容數字調整表（數據），該裝置的有力的支持工具，水準測量表面在skidless測量。傾斜校正量顯示為一個數字，很容易為任何人執(zhí)行工作設置通過調整刻度盤的主要單位。配件包括一個簡單和方便使用的設備，固定設備的實驗室，可以設置探測器在同一高度的樣品。其他簡單的立場，選擇包括一個自動裝置，該自動決定垂直（Z軸）的位置，一個X軸校正單元，其中精細調整。

參數：

測量范圍：X軸（檢出部）：25mm 50mm
       Z軸（檢出部）：800μm、80μm、8μm
*選配測頭最大可到2,400μm
檢出器：檢出方式差動電感方式
分辨率：0.01μm（800μm范圍）/0.001μm（80μm范圍）/0.0001μm（8μm范圍）
測頭尖形狀（角度/半徑）：60o/2μm 90o/5μm 60o/2μm 90o/5μm
測力：0.75mN 4mN 0.75mN 4mN
彎曲半徑：40mm
檢測方法：無軌式/有軌式（切換）
驅動部：（X軸）
測量速度：0.05、0.1、0.2、0.5、1.0mm/s
驅動速度：0.5、1、2、5mm/s
直線度：0.3μm / 25mm 0.5μm / 50mm
上下移動量：10mm
傾斜角度：±1.5o
對應標準：JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
參數：Ra, Rq, Rz, Ry, Rp, Rv, Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmax*1, Rz1max*2, S, HSC, RzJIS*3, Rppi, RΔa, RΔq, Rlr, Rmr, Rmr（c）,
Rσc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa,λq, Lo, Rpm, tp*4, Htp*4, R, Rx, AR, W, AW, Wx,自定義設置
評價曲線：斷面曲線、粗糙度曲線、DF曲線、波紋曲線、表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF曲線、解析圖表負荷曲線、振幅分布曲線、曲線補償拋物線、雙曲線、圓錐、圓、二次曲線、傾斜補償、無補償
濾波器：2CR、PC75、高斯（Gaussian Filter）
截止波長：0.08、0.25、0.8、2.5、8.0mm
取樣長度：0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25.0mm
取樣數：×1、×2、×3、×4、×5、×6、×7、×8、×9、×10、×11、×12、×13、×14、×15、×16、×17、×18、×19、×20
任意長：0.1～25mm 0.1～50mm
演算顯示部：自定義功能可選擇想顯示/演算的粗糙度參數
簡易輪廓解析功能階差、階差量、面積、坐標差
D.A.T功能輔助無軌測量時的水平調整
實時取樣功能保持驅動部停止狀態(tài)下輸入檢出器的變位
統(tǒng)計處理對一個參數演算最大值、最小值、平均值、標準偏差、合格率、直方圖
合格與否判定最大值規(guī)則/ 16%規(guī)則/平均值規(guī)則/標準偏差（1σ, 2σ, 3σ）
打印機：（內置熱敏打印機）
顯示語言:對應16國家語言（日本、英國、英、德國、法國、意大利、西班牙、葡萄牙、韓國、中國（簡體、繁體）、捷克，波蘭、匈牙利、土耳其、瑞典、荷蘭）
外部記憶卡:（2GB，選配）測量條件（最大500件）、測量數據（最大10000件）的保存/調出
外部輸入功能USB I /F、Digimatic輸出、RS-232C I /F、FootstichI/F （腳踏開關）